SN74BCT8374ADWR - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Número de pieza del fabricante
Número interno de parte
Fabricante
Breve descripción
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado de RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
El tiempo de entrega
1-2 días
Cantidad disponible
39072 Pieces
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Especificaciones para SN74BCT8374ADWR
Garantía de calidad : 365 dias de garantia
Recurso de stock : Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo
País de origen : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número de pieza : SN74BCT8374ADWR
Fabricante : Texas Instruments
Descripción : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Serie : 74BCT
Estado de la pieza : Obsolete
Tipo logico : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación : 4.5V ~ 5.5V
Número de bits : 8
Temperatura de funcionamiento : 0°C ~ 70°C
Tipo de montaje : Surface Mount
Paquete / Caja : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor : 24-SOIC
Peso : -
Condición : Nuevo y original
Documentos para SN74BCT8374ADWR
Hojas de datos : SN74BCT8374ADWR.pdf
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