SN74BCT8373ANT - IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Número de pieza del fabricante
Número interno de parte
Fabricante
Breve descripción
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Estado de RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
El tiempo de entrega
1-2 días
Cantidad disponible
16000 Pieces
Precio de referencia
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Especificaciones para SN74BCT8373ANT
Garantía de calidad :
365 dias de garantia
Recurso de stock :
Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo
País de origen :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número de pieza :
SN74BCT8373ANT
Fabricante :
Texas Instruments
Descripción :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Serie :
74BCT
Estado de la pieza :
Obsolete
Tipo logico :
Scan Test Device with D-Type Latches
Voltaje de alimentación :
4.5V ~ 5.5V
Número de bits :
8
Temperatura de funcionamiento :
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje :
Through Hole
Paquete / Caja :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paquete del dispositivo del proveedor :
24-PDIP
Peso :
-
Condición :
Nuevo y original
Documentos para SN74BCT8373ANT
Hojas de datos :
SN74BCT8373ANT.pdf
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