SN74LVTH182646APM - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Número de pieza del fabricante
Número interno de parte
Fabricante
Breve descripción
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Estado de RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
El tiempo de entrega
1-2 días
Cantidad disponible
45084 Pieces
Precio de referencia
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Especificaciones para SN74LVTH182646APM
Garantía de calidad : 365 dias de garantia
Recurso de stock : Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo
País de origen : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número de pieza : SN74LVTH182646APM
Fabricante : Texas Instruments
Descripción : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Serie : 74LVTH
Estado de la pieza : Active
Tipo logico : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Voltaje de alimentación : 2.7V ~ 3.6V
Número de bits : 18
Temperatura de funcionamiento : -40°C ~ 85°C
Tipo de montaje : Surface Mount
Paquete / Caja : 64-LQFP
Paquete del dispositivo del proveedor : 64-LQFP (10x10)
Peso : -
Condición : Nuevo y original
Documentos para SN74LVTH182646APM
Hojas de datos : SN74LVTH182646APM.pdf
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