SN74BCT8374ADW - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Número de pieza del fabricante
Número interno de parte
Fabricante
Breve descripción
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado de RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
El tiempo de entrega
1-2 días
Cantidad disponible
58188 Pieces
Precio de referencia
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Especificaciones para SN74BCT8374ADW
Garantía de calidad :
365 dias de garantia
Recurso de stock :
Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo
País de origen :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número de pieza :
SN74BCT8374ADW
Fabricante :
Texas Instruments
Descripción :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Serie :
74BCT
Estado de la pieza :
Active
Tipo logico :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación :
4.5V ~ 5.5V
Número de bits :
8
Temperatura de funcionamiento :
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje :
Surface Mount
Paquete / Caja :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor :
24-SOIC
Peso :
-
Condición :
Nuevo y original
Documentos para SN74BCT8374ADW
Hojas de datos :
SN74BCT8374ADW.pdf
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